国产源表在半导体领域及IGBT静态测试中的应用
电气性能参数是评价半导体材料、芯片性能的重要指标。其中I-V测试是使用最广泛的,源表是完成IV测试的重要设备,作为集多功能一体的精密测量仪表,源表还可广泛应用于半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材料与纳米材料等特性测试和分析场景。随着高速信息产业的蓬勃发展,器件特性测试对测试系统的要求越来越高,本次分享将探讨国内首家自主研制的数字化普赛斯源表,如何助力半导体企业电气测试精准高效,并重点结合功率半导体器件IGBT静态测试应用,介绍普赛斯3kV/4000A系统解决方案。